ElektronenmikroskopieFraunhofer-Institut für Silicatforschung ISC

Grundlage der Analyse des Materialaufbaus ist die Untersuchung mittels elektronenmikroskopischer Verfahren. Die Abbildung der Topographie und der Materialzusammensetzung von der Millimeter- bis hinab auf die Nanometerskala führt zu einem umfassenden Verständnis des Materialaufbaus. Am Fraunhofer ISC stehen verschiedene Elektronenmikroskope mit vielfältigen Analysemöglichkeiten zur Verfügung. Die Bedienung erfolgt durch wissenschaftlich ausgebildetes Personal. Besondere Schwerpunkte liegen auf der möglichst artefaktfreien Materialpräparation als Schlüsseltechnologie zur aussagekräftigen Analytik sowie auf dem Mikrolabor im REM, in dem Materialeigenschaften in situ auf der Mikrometerskala gemessen werden können.
Ausgewählte elektronenmikroskopische Methoden:

  •  Hochauflösende Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie
  • „„ Höchstauflösende Transmissionselektronenmikroskopie
  • „„ Focused Ion Beam zur Materialpräparation im Mikroskop
  • „„ Messung der elektrischen Leitfähigkeit
  • „„ Mechanische Drucktests
  • „„ Cryo-Mikroskopie

Dr. Jürgen Meinhardt

Clusterleiter Dienstleistungen

Zentrum für Angewandte Analytik ZAA

Fraunhofer-Institut für Silicatforschung ISC

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97082 Würzburg

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