PhasenanalytikFraunhofer-Institut für Silicatforschung ISC

Neben der chemischen Zusammensetzung spielt für das Verständnis von Reaktionen und Prozessen auch oft die Phasenzusammensetzung eine Rolle. Diese wird auf makroskopischer Ebene mit der Röntgendiffraktometrie (XRD) und auf mikroskopischer Ebene (bis in den Nanometerbereich hinein) mit der Elektronenbeugung im Transmissionselektronenmikroskop (TEM) − insbesondere beim TEM auch unter Cryo-Bedingungen − bestimmt.
Dabei können sowohl pulverförmige als auch kompakte Proben sowie Beschichtungen analysiert werden. Bei Bedarf können auch temperaturabhängige sowie atmosphärenkontrollierte In-situ-XRD-Messungen durchgeführt werden.

Ansprechpartner


Christine Wendler

Leiterin

Mess- und Prüfzentrum

Fraunhofer-Institut für Silicatforschung ISC

Neunerplatz 2
97082 Würzburg

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